SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 16:33:52 浏览:9425
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 |
| 英文名称： | Method of measurement for forward voltage drop of light-emitting devices |
| 中标分类： |
能源、核技术 >>
能源、核技术综合 >>
技术管理 |
| ICS分类： |
电子学 >>
光电子学、激光设备
|
| 替代情况： | 被SJ/T 11394-2009代替 |
| 发布日期： | 1983-11-25 |
| 实施日期： | 1984-05-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2010-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 1页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 能源 核技术 能源 核技术综合 技术管理 电子学 光电子学 激光设备
基本信息
| 标准名称： | 标准照明体和几何条件 |
| 英文名称： | Standard illuminants and geometric conditions |
| 中标分类： |
电工 >>
电气照明 >>
电气照明综合 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象 >>
光学和光学测量 >>
颜色和光的测量
|
| 替代情况： | 替代GB/T 3978-1994 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2008-06-26 |
| 实施日期： | 2009-03-01 |
| 首发日期： | 1983-12-15 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国颜色标准化技术委员会 |
| 提出单位： | 全国颜色标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国颜色标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国计量科学研究院、深圳市海川实业股份有限公司 |
| 起草人： | 马煜、林弋戈、陈苹、何唯平、汤惠工 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2009-03-01 |
| 页数： | 20页 |
| 计划单号： | 20069017-T-469 |
适用范围
本标准规定了色度学中的CIE标准照明体、代表照明体的人工光源和颜色测量仪器的几何条件。
本标准适用于颜色测量、计算和评价中照明体和几何条件的应用和表示。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB/T 5698 颜色术语
所属分类： 电工 电气照明 电气照明综合 计量学和测量 物理现象 光学和光学测量 颜色和光的测量
